OptiSurf^?  - 高精度低相干干涉儀，用于UV VIS和IR光學元件的中心厚度和空氣間隔。

OptiSurf^? 是非接觸式測量單鏡頭、平面關系和光學系統中心厚度與空氣間隔的理想工具。該儀器基于低相干干涉儀測量原理，經一次掃描即可測量光學系統中所有的表面距離，精度高達0.15μm。特別是，與常規系統相比。OptiSurf^?大大簡化了樣品對于測量軸的對準過程；頗具創新性的對準工具，可調的樣品支架以及簡便的軟件控制使無經驗的操作者也能夠精確的對準并進行測量。這種省時的創新使OptiSurf^? 可用于生產中。

 OptiSurf^?是市場中唯一可測量遠紅外鏡頭材料的設備。作為 OptiCentric^? IR設備的更新， OptiCentric^? IR 是紅外透鏡高精度組裝工藝的完美補充。